Marvin TS9xx Halbleitertestsystem

PXI Halbleitertestsystem für Digital- und Mixed Signal Anwendungen

Anwendungsbeschreibung

Das Testsystem dient dem Test von digitalen und Mixed Signal Halbleitern im Rahmen der Design Verifikation, der spezialisierten Fertigung und der Qualitätssicherung. Das System erlaubt neben der statischen und funktionalen Prüfung auch den parametrischen Test von DC und AC Eigenschaften der Halbleiter.
Das System stellt für DC-Parametermessungen eine PMU (Parametric Measurement Unit) pro Pin zur Verfügung. Für den parametrischen Test der AC-Eigenschaften verfügt das System über ein digitales Subsystem mit flexiblem dynamischem Timing und einer „Timing pro Pin“ Architektur mit einer Auflösung von <1ns.

Durch die Realisierung des Systems als PXI basierte Lösung ist eine Erweiterung um kundenspezifische Instrumentierung zur Verifikation z.B. von modulierten RF-Signalen einfach möglich. Die offene Systemsoftware erlaubt eine Einbindung entsprechender Treiber und Messfunktionen.

Besonderheiten

Die Lösung wird bevorzugt über unsere Tochtergesellschaft bsw TestSystems & Consulting AG vertrieben.

Website: www.bsw-ag.com
Ansprechpartner: Norbert Bauer
Tel.: +49 (0)89 9605740
Mail: norbert.bauer@bsw-ag.com
Branche
Systemtyp
Eingesetzte Technologie
  OTP ...
  LXI ...
  Ethernet
PXI...
  Bildverarbeitung / LED Auswertung
  Schalten von großen DC Spannungen oder Strömen
  Schalten von Spannungen >300V
  DUT Programmierung (JTAG) etc.
  Embedded Controller von LX
Standardsoftware
  LX-TSCOE4 Operator Interface ...
  LX-TSCOE Legacy OP
  LX-Prüfdatenbank ...
  LX-Magpie Auswertesoftware ...
  LX-Woodcreeper Datenbank API ...
  NI TestStand ...
  Keysight TestExec SL ...
  Associated Research Autoware
  LX-Testschritt-Bibliotheken
C# ...
C++ ...
  NI LabVIEW ...
  Keysight VEE ...
Marvin ICEasy
Marvin ATEasy