Marvin TS9xx Halbleitertestsystem
PXI Halbleitertestsystem für Digital- und Mixed Signal Anwendungen
Anwendungsbeschreibung
Das Testsystem dient dem Test von digitalen und Mixed Signal Halbleitern im Rahmen der Design Verifikation, der spezialisierten Fertigung und der Qualitätssicherung. Das System erlaubt neben der statischen und funktionalen Prüfung auch den parametrischen Test von DC- und AC-Eigenschaften der Halbleiter.
Das System stellt für DC-Parametermessungen eine PMU (Parametric Measurement Unit) pro Pin zur Verfügung. Für den parametrischen Test der AC-Eigenschaften verfügt das System über ein digitales Subsystem mit flexiblem dynamischem Timing und einer „Timing pro Pin“ Architektur mit einer Auflösung von <1ns.
Durch die Realisierung des Systems als PXI basierte Lösung ist eine Erweiterung um kundenspezifische Instrumentierung zur Verifikation, z.B. von modulierten RF-Signalen, einfach möglich. Die offene Systemsoftware erlaubt eine Einbindung entsprechender Treiber und Messfunktionen.
Besonderheiten
Die Lösung wird bevorzugt über unsere Tochtergesellschaft bsw TestSystems & Consulting AG vertrieben.
| Website: | www.bsw-ag.com |
| Ansprechpartner: | Norbert Bauer |
| Tel.: | +49 (0)89 9605740 |
| Mail: | norbert.bauer@bsw-ag.com |
| LX-TSCOE4 Operator Interface ... | |
| LX-TSCOE Legacy OP | |
| LX-Prüfdatenbank ... | |
| LX-Magpie Auswertesoftware ... | |
| LX-Woodcreeper Datenbank API ... | |
| NI TestStand ... | |
| Keysight TestExec SL ... | |
| Associated Research Autoware | |
| LX-Testschritt-Bibliotheken | |
| ✓ | C# ... |
| ✓ | C++ ... |
| NI LabVIEW ... | |
| Keysight VEE ... | |
| ✓ | Marvin ICEasy |
| ✓ | Marvin ATEasy |