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Marvin TS9xx Halbleitertestsystem

PXI Halbleitertestsystem für Digital- und Mixed Signal Anwendungen

Anwendungsbeschreibung

Das Testsystem dient dem Test von digitalen und Mixed-Signal-Halbleitern im Rahmen der Design-Verifikation, der spezialisierten Fertigung und der Qualitätssicherung. Das System erlaubt neben der statischen und funktionalen Prüfung auch den parametrischen Test von DC- und AC-Eigenschaften der Halbleiter.
Das System stellt für DC-Parametermessungen eine PMU (Parametric Measurement Unit) pro Pin zur Verfügung. Für den parametrischen Test der AC-Eigenschaften verfügt das System über ein digitales Subsystem mit flexiblem dynamischem Timing und einer „Timing pro Pin“ Architektur mit einer Auflösung von <1ns.

Durch die Realisierung des Systems als PXI basierte Lösung ist eine Erweiterung um kundenspezifische Instrumentierung zur Verifikation, z.B. von modulierten RF-Signalen, einfach möglich. Die offene Systemsoftware erlaubt eine Einbindung entsprechender Treiber und Messfunktionen.

Besonderheiten

Die Lösung wird bevorzugt über unsere Tochtergesellschaft bsw TestSystems & Consulting AG vertrieben.

Website: www.bsw-ag.com
Ansprechpartner: Norbert Bauer
Tel.: +49 (0)89 9605740
Mail:

 

Branche
Systemtyp
Eingesetzte Technologie
  OTP ...
  LXI ...
  Ethernet
PXI...
  Bildverarbeitung / LED Auswertung
  Schalten von großen DC Spannungen oder Strömen
  Schalten von Spannungen >300V
  DUT Programmierung (JTAG) etc.
  Embedded Controller von LX
Standardsoftware
  LX-TSCOE4 Operator Interface ...
  LX-TSCOE Legacy OP
  LX-Prüfdatenbank ...
  LX-Magpie Auswertesoftware ...
  LX-Woodcreeper Datenbank API ...
  NI TestStand ...
  Keysight TestExec SL ...
  Associated Research Autoware
  LX-Testschritt-Bibliotheken
C# ...
C++ ...
  NI LabVIEW ...
  Keysight VEE ...
Marvin ICEasy
Marvin ATEasy