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Kostenfreier Workshop: Funktions- und elektrischer Sicherheitstest im Zeitalter smarter Produkte, 25.06.19

Nehmen Sie teil an unserem kostenfreien Tages-Workshop zum Thema:

Funktions- und elektrischer Sicherheitstest im Zeitalter smarter Produkte

Moderne Produkte im Zeitalter von IOT und Leistungselektronik verknüpfen die verschiedenen Disziplinen beim Fertigungstest der Baugruppen. Die Kombination von elektrischer Sicherheit, Funktionstests von Steuerungen mit Displays und Funkschnittstellen sowie der Test von elektronischen Baugruppen unter hohen Leistungen wird immer wichtiger.

Unser kostenloser Workshop gibt mit dem Schwerpunkt Sicherheits- und Funktionstest einen guten Überblick über die in der Praxis angewendeten Messverfahren und Anforderungen. Darüber hinaus legen wir den Fokus auf die sichere Gestaltung der (Hochspannungs-) Prüfplätze und auf die Integration in die Fertigungsumgebung für kleinere und größere Produktionsstückzahlen. Wir demonstrieren, wie Sie Testkosten optimieren und durch Traceability und statistische Auswertung der Testergebnisse einen Mehrwert generieren können.

Angelehnt an unsere bisherige, erfolgreiche Seminarreihe „Going Global“, beginnen wir bei den Grundlagen und nehmen Sie mit auf eine thematische Reise bis zur Kontaktierung und Automatisierung komplexer Testlösungen.

Dieser Workshop richtet sich an Testingenieure und –techniker, Fertigungs- und Produktionsleiter, Verantwortliche für Prüfmittel, Testmethoden und –verfahren, Prüffeld- und Qualitätsmanager.

Experten von LXinstruments und ATX Hardware referieren zu den Themen und demonstrieren praktische Beispiele. Es gibt keine Teilnahmegebühren.

Zeit: 08.30 - 17.00 Uhr
Wann: 25.06.2019 26.06.2019 27.06.2019 28.06.2019
Ort: Herzogenaurach Chieming/Ising Holzgerlingen Freiburg
Location: Hotel HerzogsPark Gut Ising Hotel Gärtner Schloss Reinach

BESCHREIBUNG:

1. Safety Compliance Test in Typenprüfung und Fertigungstest (Übersicht)
• Warum Sicherheitstest?
• Übersicht: Klassische Messungen beim elektrischen Sicherheitstest
• Unterschied Typentest und Fertigungstest
• Unterschiede und Gemeinsamkeiten am Beispiel verschiedener Normen

2. Grundlagen zur Durchführung der verschiedenen Messungen
• Dielectric Withstand, Insulation Resistance, Ground Bond / Continuity, Leakage
• Messungen an mehreren Testpunkten

3. Produktionsbezogene und sichere Gestaltung eines HV-Prüfplatzes
• Gefährdungspotentiale bei HV-Prüfplätzen
• Relevante Normen
• Produktionsbezogene und sichere Gestaltung eines HV-Prüfplatzes

4. Herausforderungen und Möglichkeiten im Funktionstest und Hochspannungsprüfungen
• Möglichkeiten zur sicheren Kontaktierung der Prüflinge im Fertigungsumfeld
• Kontaktierung von komplexen Baugruppen und von Hochspannungs- und Hochstromprüfpunkten
• Gefährdungsanalyse und Projektierung Sciherheitstechnik
• Wechselsatzkonzept für den Hochspannungstest

5. Herausforderungen beim Test smarter Leistungselektronik-Baugruppen
• WLAN, Bluetooth, Touchdisplay und viele kW Leistung?
• Test von "smarten" Funktionen, die bei modernen Produkten getestet werden müssen
• Praktische Beispiele zur Abdeckung komplexer Testanforderungen in der Fertigung

6. Anforderungen an eine mitwachsende Funktionstest-HW-Plattform
• Skalierbarkeit, Modularität, Standaridiserung, Zuverlässigkeit
• Gutes Preis- / Leistungsverhältnis, kurze Lieferzeit, schnelle Konfiguration
• Internationale Aspekte zu Nutzung, Wartbarkeit und Erweiterbarkeit
• Umsetzung in die Praxis am Beispiel: Baukastenkonzept mit der Offenen Test Plattform OTP²

7. Testsystemsoftware in modernen Fertigungsumgebungen
• Anpassbarkeit an Fertigungs- und Testprozesse
• Anbindung an Leitrechner und Factory Automation Systeme z.B. mit OPC-UA
• Individuelle Bedienoberflächen und Benutzerrechte für die Produktion
• Verwaltung der Testdaten mit Auswertewerkzeugen und offenen Schnittstellen, Traceability

8. Praxisbeispiel Prüfprozess in der Software abbilden
• Modellierung des Prüfkonzepts in der Software
• Umsetzen der Testspezifikation in die Prüfapplikation
• Inbetriebnahme und Validierung des Prüfkonzepts: Applikationsreview und Messmittelfähigkeit

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