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Testsysteme

Testsysteme beinhalten sämtliche Messgeräte, eine Stromversorgung, die Verkabelung zwischen den einzelnen Geräten via GPIB / LAN und dem DUT (Device under Test), also dem eigentlichen Prüfling, sowie einem normalen PC.
Testsysteme von LXinstruments können sowohl

  • modular über unsere Offene Testplattform (OTP2) konfiguriert als auch
  • maßgeschneidert auf Ihre Bedürfnisse zugeschnitten werden.

Unsere Testsysteme haben ein attraktives Preis- Leistungsverhältnis durch die hohe Standardisierungsrate. Optimal ergänzen sich unsere Softwarelösungen, die von der Bedienerumgebung bis zur Auswertung reicht. 

Wir freuen uns auf Ihren Anruf.

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Testsysteme

Testsysteme beinhalten sämtliche Messgeräte, eine Stromversorgung, die Verkabelung zwischen den einzelnen Geräten via GPIB / LAN und dem DUT (Device under Test), also dem eigentlichen Prüfling, sowie einem normalen PC.
Testsysteme von LXinstruments können sowohl

  • modular über unsere Offene Testplattform (OTP2) konfiguriert als auch
  • maßgeschneidert auf Ihre Bedürfnisse zugeschnitten werden.

Unsere Testsysteme haben ein attraktives Preis- Leistungsverhältnis durch die hohe Standardisierungsrate. Optimal ergänzen sich unsere Softwarelösungen, die von der Bedienerumgebung bis zur Auswertung reicht. 

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PXI Karte | GX1110 PXI Karte | GX1110
Marvin-Test-Solutions
MV-GX1110

1 Kanal DDS AWG, 100 MS/s, 2M Speicher, 12 Bit Auflösung, von 100 mVpp bis 8 Vpp programmierbar, 3 HE
Preis auf Anfrage
PXI Karte | GX1120 PXI Karte | GX1120
Marvin-Test-Solutions
MV-GX1120

2 Kanal DDS AWG, 250 MS/s, Kanäle kombiniert 400 MS/s, 16 Bit Auflösung, 32M Speicher, 3 HE
Preis auf Anfrage
PXI Karte | GX1164 PXI Karte | GX1164
Marvin-Test-Solutions
MV-GX1164

Programmierbare Widerstände, 4 Kanal, 1 Ohm bis 64 kOhm, 1 Ohm Auflösung, On-Board EEPROM
Preis auf Anfrage
PXI Karte | GX1164-0.25 PXI Karte | GX1164-0.25
Marvin-Test-Solutions
MV-GX1164-0.25

Programmierbare Widerstände, 4 Kanal, 0.25 Ohm bis 16 kOhm, 0.25 Ohm Auflösung, On-Board EEPROM
Preis auf Anfrage
PXI Karte | GX1164-0.5 PXI Karte | GX1164-0.5
Marvin-Test-Solutions
MV-GX1164-0.5

Programmierbare Widerstände, 4 Kanal, 0.5 Ohm bis 32 kOhm, 0.5 Ohm Auflösung, On-Board EEPROM
Preis auf Anfrage
PXI Karte | GX1164-2 PXI Karte | GX1164-2
Marvin-Test-Solutions
MV-GX1164-2

Programmierbare Widerstände, 4 Kanal, 2 Ohm bis 128 kOhm, 2 Ohm Auflösung, On-Board EEPROM
Preis auf Anfrage
PXI Karte | GX1164-4 PXI Karte | GX1164-4
Marvin-Test-Solutions
MV-GX1164-4

Programmierbare Widerstände, 4 Kanal, 4 Ohm bis 256 kOhm, 4 Ohm Auflösung, On-Board EEPROM
Preis auf Anfrage
PXI Karte | GX1164-8 PXI Karte | GX1164-8
Marvin-Test-Solutions
MV-GX1164-8

Programmierbare Widerstände, 4 Kanal, 8 Ohm bis 512 kOhm, 8 Ohm Auflösung, On-Board EEPROM
Preis auf Anfrage
PXI Karte | GX1200 PXI Karte | GX1200
Marvin-Test-Solutions
MV-GX1200

1 Kanal AWG, 50 MS/s, 14 Bit Auflösung, 2M Speicher, FSK,sweep, FM,.., 4096 unterschiedliche Wellenformen
Preis auf Anfrage
PXI Karte | GX1201 PXI Karte | GX1201
Marvin-Test-Solutions
MV-GX1201

1 Kanal AWG, 100 MS/s, 14 Bit Auflösung, 2M Speicher, FSK,sweep, FM,.., 4096 unterschiedliche Wellenformen
Preis auf Anfrage
PXI Karte | GX1649 PXI Karte | GX1649
Marvin-Test-Solutions
MV-GX1649

AWG, 64 Ausgangskanäle mit 16 Bit Auflösung, 625 KS/s, 15 Vpp
Preis auf Anfrage
PXI Karte | GX1649-1 PXI Karte | GX1649-1
Marvin-Test-Solutions
MV-GX1649-1

AWG, 64 Ausgangskanäle mit 16 Bit Auflösung, 625 KS/s, 15 Vpp, Datenstreaming
Preis auf Anfrage
4 von 10

Testsysteme werden in unterschiedlichste Anwendungen und Branchen eingesetzt. Testsysteme prüfen, ob elektronische Baugruppen, Geräte etc. die definierten Funktionen und Parameter auch unter Belastung einhalten.

Welche Arten von Funktionstests gibt es?

  • Run-In:
    Unter kontinuierlichem Temperaturwechsel wird getestet, ob Baugruppen in ihrem definierten Temperaturbereich leistungsfähig bleiben und nicht ausfallen.
  • Burn-In:
    Hier sollen Material- und Bauteilschwächen erkannt werden, indem man beim Test die Baugruppenalterung simuliert.
  • HASS (Highly accelerated stress screen):
    Bevor die Endmontage der Baugruppen erfolgt, werden sie nochmals einem mechanischen Belastungstest bei stabiler Temperatur unterzogen.
  • HALT (Highly accelerated life test):
    Die Prüflinge werden im Laufe des Produktionsprozesses extremen Temperaturschwankungen und mechanischen Belastungen ausgesetzt.

Modulare Funktionstestsysteme können Sie direkt in Abstimmung mit unseren KollegInnen in einem Baukastensystem konfigurieren. Durch die standardisierten Bestandteile wird ein attraktives Preis-/Leistungsverhältnis realisiert.

 Auch individualisierte Lösungen sind möglich, sodass auch schon vorhandene Testanlagen beliebig erweitert werden können.

Die Software - ein zentrales Element

Zentrales Element von Funktionstestsystemen ist die angewendete Software. LXinstruments verfügt über umfangreiche und leistungsfähige Software-Module, die optimal aufeinander abgestimmt und für alle Anforderungen geeignet sind.

  1. Test Sequencer Common Operator Environment (TSCOE)
    TSCOE ist die grafische Benutzer- und Bedienerschnittstelle, die mit der verwendeten Automatisierungstechnik kommuniziert.2.
  2. Test Management Software (TMS)
    Diagnostiziert und analysiert elektronische Komponenten und eignet sich besonders für kleine und mittelgroße Systeme.
  3. Magpie
    ist eine weiterentwickelte Auswerte- und Datamining Applikation, um Reports und Trendanalysen anhand der ausgewählten Daten.
  4. OPC UA-Schnittstelle
    Sie ermöglicht eine standardisierte Anbindung aller Testsysteme an ein
      •  Prozessleitsystem (Leitlinienrechner)
      • Automatisierungs- und Handling-System sowie
      • SPS (speicherprogrammierbare Steuerung).

Selbstverständlich gibt es auch Testsysteme, die andere Fragestellungen haben, wie bei Batterie- oder Brennstoffzellentests, wo elektrochemische Prozesse und Impedanzmessungen im Mittelpunkt stehen. Mehr Informationen und Produkte dazu finden Sie in unseren Bereichen Elektrochemie und Batterie Messtechnik.

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