Agil eFuse2 | Elektronische Sicherung
Schützt Waferprobes, Bias-Tees und Prüflinge blitzschnell vor Schäden durch Überstrom – ideal für sichere On-Wafer- und Halbleitertests.
- ✓ Elektronische Sicherung für On-Wafer Test
- ✓ Schutz für Waferprobes / Bias-Tees / Stecker und Transistoren
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Elektronische Sicherung für On-Wafer-Messungen
AGIL eFuse2-300-10: Überstromschutz bei On-Wafer-Tests von Leistungshalbleitern
Bei On-Wafer-Messungen an Leistungshalbleitern wie FETs oder HBTs kann eine verrutschte Probe einen hohen Strom verursachen. Auch eine fehlerhafte Kontaktierung kann dazu führen. Gefährdet sind dann Prüfling, Bias-Tee, Steckverbinder und Wafer-Tastkopf.
Die AGIL eFuse2 überwacht den Strom in der DC-Bias-Leitung und wird dafür in Reihe zwischen Gleichspannungsversorgung und Prüfling geschaltet. Überschreitet der Strom die eingestellte Stromgrenze, schaltet die elektronische Sicherung die Stromzufuhr innerhalb von weniger als 300 ns ab.
Stromgrenze einstellen und eFuse über RS-232 fernsteuern
Die Stromgrenze lässt sich über einen Drehknopf mit Druckfunktion oder über die RS-232-Schnittstelle einstellen. Die Einstellgenauigkeit der Stromgrenze beträgt bei Strömen über 1 A 5 %. Über die Schnittstelle kann außerdem der von der eFuse gemessene Stromwert ausgelesen werden. Die Genauigkeit des ausgelesenen Stromwerts beträgt etwa 5 %. Damit eignet sich der Wert zur Stromüberwachung, nicht jedoch für Präzisionsmessungen.
Passende Produktbereiche
Netzgeräte / Quellen | Prüfspitzen / Probes
Möchten Sie Ihre Waferprobes und Prüflinge zuverlässig vor Überstrom schützen?
Neben der eFuse2-300-10 bietet AGIL weitere eFuse-Varianten für unterschiedliche Spannungs- und Strombereiche. Welche davon am besten zu Ihrem Prüfaufbau passt, hängt von der jeweiligen Messaufgabe ab – wir unterstützen Sie bei Auswahl und Integration der passenden elektronischen Sicherung für Ihre On-Wafer- und Halbleitertests.
Spezifikationen
| Produkttyp | Elektronische Hochgeschwindigkeits-Sicherung |
|---|---|
| DC-Eingangsspannung | 0 bis 300 VDC |
| Nennstrom | 10 A DC |
| Grenzstromeinstellung | 0 bis 10 A DC |
| Abschaltzeit | < 300 ns |
| Innenwiderstand | 50 mΩ |
| Spannungsabfall | 500 mVDC bei 10 A |
| Temperaturkoeffizient | 0,03 %/K |
| Netzspannung | 98 bis 127 VAC oder 207 bis 253 VAC, je nach Geräteausführung |
| Netzfrequenz | 47 bis 63 Hz |
| Bedienung | Display, Statusanzeige und Dreh-Druck-Knopf |
| Schnittstelle | RS-232 |
| Anschlüsse | Sicherheitsbuchsen für Ein- und Ausgang |
| Kurzschlussfestigkeit | Dauerhaft bei 0 bis 40 °C |
| Umgebungstemperatur | 0 bis 40 °C |
Optionen & Zubehör
| Netzspannungsausführung | 98 bis 127 VAC oder 207 bis 253 VAC, werkseitig auf einen Bereich eingestellt |
|---|
Lieferumfang
| Elektronische Sicherung eFuse 2 100-10 | |
|---|---|
| Netzanschlusskabel | |
| Bedienungsanleitung |
Anwendungen
| Schnelle Stromabschaltung | Schutz von Prüflingen bei zu hohen Strömen |
|---|---|
| Schutz von Probes | Reduzierung des Beschädigungsrisikos durch hohe gespeicherte Energie |
| Schutz bei Labornetzgeräten | Begrenzung der Energie aus den Ausgangskondensatoren der Stromversorgung |
| Forschung und Entwicklung | Einsatz in Forschungslaboren von Halbleiterherstellern und Universitäten |
| DC-Prüfaufbauten | Vorschaltgerät für Stromversorgungen bei Anwendungen bis 100 VDC und 10 A |
Links & Downloads
Hersteller
AGIL steht für Analoge und Getaktete Industrielle Leistungselektronik. Der Name dieses kleinen, deutschen Spezialisten für individuelle Stromversorgungslösungen ist Programm. Die bsw hat exklusiv die Familie der efuses im Vertrieb. Die efuse ist keine Sicherung im bekannten Sinn, sondern eine hochschnelle elektronische Schaltung, die im On-wafer- bzw. Halbleitertest verwendete Messspitzen schneller abschalten kann, als ein Kurzschluss die Messspitze und den Prüfling schädigt.