PICOPROBE® Mikrowellen-Prüfspitzen | 40-110-Serie
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Produktinformationen "PICOPROBE® Mikrowellen-Prüfspitzen | 40-110-Serie"
PICOPROBE® 40-110-Serie
Mikrowellen-Prüfspitzen für HF-Wafer-Probing
On-Wafer-Messungen und RF-Charakterisierung
Koaxiale Mikrowellen-Prüfspitzen für präzise On-Wafer-Messungen
Die PICOPROBE® 40-110-Serie von GGB Industries umfasst hochpräzise koaxiale Mikrowellen-Prüfspitzen (Microwave Probes), entwickelt für anspruchsvolles HF-Wafer-Probing und zuverlässige On-Wafer-Messungen.
Das Anwendungsspektrum reicht von der Hochfrequenz- über die Mikrowellen- bis zur Millimeterwellenmesstechnik.
Eine präzise elektrische Kontaktierung von Wafern und Substraten bildet die Basis für stabile und vergleichbare Messergebnisse, insbesondere bei S-Parameter-Analysen und weiteren HF-Messaufgaben.
Flexible Integration in Labor- und Wafer-Testumgebungen
Die PICOPROBE® Serie ist für manuelle Laboraufbauten ebenso geeignet wie für automatisierte Wafer-Testsysteme. Die Integration in bestehende Probe-Stationen erfolgt unkompliziert, gängige Kontaktgeometrien für Messungen direkt auf dem Wafer werden zuverlässig unterstützt.
Koaxiales Design für reproduzierbare On-Wafer-Messungen.
Das patentierte koaxiale Design gewährleistet eine kontrollierte Signalführung bis zur Kontaktspitze und reduziert Verluste sowie Abstrahleffekte gegenüber nicht koaxialen Kontaktkonzepten.
Einzeln gefederte Spitzen aus Berylliumkupfer, Wolfram oder Nickel sorgen für eine sichere elektrische Verbindung. Die direkte Sicht auf die Kontaktspitzen erleichtert die präzise Positionierung und unterstützt einen reproduzierbaren Messaufbau.
Ihre Vorteile auf einen Blick
- koaxiale Mikrowellen-Prüfspitzen für präzises HF-Wafer-Probing
- reproduzierbare On-Wafer-Messungen in Entwicklung und Charakterisierung
- stabile Signalführung für vergleichbare HF- und Mikrowellenanalysen
- flexible Integration in Labor- und Wafer-Testumgebungen
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Viele Bauformen und kundenspezifische Konfigurationen lieferbar
Gerne unterstützen wir Sie bei der Auswahl der passenden Mikrowellen-Prüfspitze der PICOPROBE® 40-110-Serie für Ihre Messaufgabe.
Kontaktieren Sie uns für eine technische Beratung und weiterführende Informationen.
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Spezifikationen der Mikrowellen-Prüfspitzen PICOPROBE® 40-110-Serie
PICOPROBE® – Modellübergreifende Eigenschaften & technische Daten:
- Koaxiale Mikrowellen-Prüfspitzen für präzises HF-, Mikrowellen- und Millimeterwellen-Wafer-Probing
- Patentiertes koaxiales Design für kontrollierte und stabile Signalführung
- Individuell gefederte Kontakte für zuverlässige On-Wafer-Kontaktierung
- Sichere Messungen auch bei unebenen (nicht planaren) Wafer-Oberflächen
- Direkte Sicht auf die Kontaktspitzen zur präzisen Positionierung
- Flexible Integration in manuelle und automatisierte Probe-Stationen
- Messprinzip: koaxiale Signalführung bis zur Kontaktspitze
- Kontaktmaterial: Beryllium-Kupfer, optional Wolfram oder Nickel (modellabhängig)
- Kontaktgeometrien: GSG, GS, SG
- Einsatzbereich: On-Wafer-Messungen in HF-, Mikrowellen- und Millimeterwellenanwendungen
Modell 40A – Modellspezifische Eigenschaften & technische Daten:
- Optimiert für Entwicklungs- und Serienmessungen mit sehr hoher Wiederholgenauigkeit
- Besonders geeignet für automatisierte Wafer-Tests, Probe-Cards und Multi-Contact-Wedges
- Optional mit Wolfram- oder Nickel-Kontaktspitzen verfügbar
- Sehr hohe Flexibilität durch kundenspezifische Adapter und Halterungen
- Frequenzbereich: DC bis 40 GHz
- HF-Anschluss: 2,92 mm K-Steckverbinder (kompatibel zu 3,5 mm / SMA)
- Pitch (Spitzenabstand): 25 µm bis 2540 µm
- Messwiederholbarkeit: sehr hoch (serien- und produktionstauglich)
Modell 50A – Modellspezifische Eigenschaften & technische Daten:
- Ausgelegt für High-End-HF- und Mikrowellenmessungen mit erhöhter Bandbreite
- Fokus auf maximale Signalintegrität bei höheren Frequenzen
- Bevorzugt für anspruchsvolle Labor- und Charakterisierungsanwendungen
- Frequenzbereich: DC bis 50 GHz
- HF-Anschluss: 2,4 mm-Steckverbinder (V-kompatibel)
- Pitch (Spitzenabstand): ab 25 µm verfügbar
- Messwiederholbarkeit: hoch
Modell 67A – Modellspezifische Eigenschaften & technische Daten:
- Konzipiert für Advanced-RF-Anwendungen oberhalb klassischer HF-Bereiche
- Geeignet für On-Wafer-Messungen im Millimeterwellenbereich
- Einsatzschwerpunkt in Advanced-Development- und Forschungsumgebungen
- Frequenzbereich: DC bis 67 GHz
- HF-Anschluss: 1,85 mm V-Steckverbinder (kompatibel zu 2,4 mm)
- Pitch (Spitzenabstand): 50 µm bis 1250 µm
- Messwiederholbarkeit: hoch
Modell 110H – Modellspezifische Eigenschaften & technische Daten:
- Entwickelt für On-Wafer-Messungen in höchsten Millimeterwellenfrequenzbereichen
- Einsatz in Forschung, Entwicklung und High-End-Charakterisierung
- Geeignet für Millimeterwellen-ICs und W-Band-Strukturen
- Frequenzbereich: DC bis 110 GHz
- HF-Anschluss: 1,0 mm-Steckverbinder
- Pitch (Spitzenabstand): 50 µm bis 1250 µm
- Messwiederholbarkeit: sehr hoch (mmWave-optimiert)
Optionen und Zubehör der Mikrowellen-Prüfspitzen PICOPROBE® 40-110-Serie
- Halter für Prüfspitzen und Adapter für Standard-Microwave-Probe-Stationen
- Montagehardware für Probe-Cards und Multi-Contact-Wedges
- Kundenspezifische mechanische Halterungen für Sonderaufbauten und beengte Einbausituationen
- Waveguide-Interfaces / Waveguide-Adapter für Anwendungen in sehr hohen Frequenzbereichen (modellabhängig)
- Optional integrierter Bias-T für Messungen an aktiven Bauelementen (nur bei Waveguide-Versionen verfügbar)
Hinweis:
Das verfügbare Zubehör ist modell- und anwendungsabhängig. Einige Erweiterungen sind als kundenspezifische Lösungen ausgeführt und auf Anfrage erhältlich.
Lieferumfang der Mikrowellen-Prüfspitzen PICOPROBE® 40-110-Serie
Der serienmäßige Lieferumfang umfasst die ausgewählte Mikrowellen-Prüfspitze der PICOPROBE® 40-110-Serie in der bestellten Ausführung.
Anwendungsmöglichkeiten- und Beispiele der Mikrowellen-Prüfspitzen PICOPROBE® 40-110-Serie
Modellübergreifende Anwendungen:
- HF-Wafer-Probing für aktive und passive Bauelemente
- On-Wafer-Messungen in Entwicklung, Charakterisierung und Forschung
- S-Parameter-Analysen und frequenzabhängige HF-Messaufgaben
- Messungen an Wafern, Substraten und Teststrukturen
- Einsatz in manuellen und automatisierten Probe-Stationen
- Charakterisierung von RF-, Mikrowellen- und Millimeterwellen-Bauelementen
- Reproduzierbare Messungen durch koaxiales Prüfspitzen-Design
- Präzise Kontaktierung auch bei unebenen (nicht planaren) Wafer-Oberflächen
Modell 50A – Modellspezifische Anwendungen:
- High-End-HF- und Mikrowellen-Messungen im Labor
- Präzise S-Parameter-Messungen bei höheren Frequenzen
- Charakterisierung von HF-ICs, MMICs und passiven HF-Strukturen
- Validierung und Optimierung von HF-Schaltungen und Layouts
- Forschungs- und Entwicklungsanwendungen mit hohen Anforderungen an Signalintegrität
Modell 67A – Modellspezifische Anwendungen:
- Advanced-RF-Anwendungen oberhalb klassischer HF- und Mikrowellenbereiche
- On-Wafer-Messungen im Millimeterwellenbereich
- Charakterisierung moderner RF-ICs und MMICs mit erweiterten Frequenzanforderungen
- Technologie- und Plattformentwicklung für zukünftige mmWave-Anwendungen
- Forschungsnahe Messaufgaben in Advanced-Development-Umgebungen
Modell 110H – Modellspezifische Anwendungen:
- On-Wafer-Messungen in höchsten Millimeterwellenfrequenzbereichen
- Charakterisierung von mmWave-ICs, W-Band- und Sub-THz-Strukturen
- Forschungs- und Entwicklungsanwendungen in Universitäten und Industrieforschung
- Validierung neuartiger Halbleitertechnologien und Bauelementkonzepte
- Hochfrequente Bauelement- und Materialcharakterisierung