Produkte von GGB/Picoprobe

GGB Industries, der Erfinder der Picoprobe®-Produktlinie von Mikrowellen- und Oszilloskop-Tastköpfen, liefert bereits seit 1980 Messköpfe für On-wafer Messungen für die Halbleiterindustrie, beginnend mit einer Reihe hochohmiger Sonden für die Fehlersuche bei der Diagnose der internen Funktionsweise komplexer Logik- und Speicherchips. Seitdem hat der Messgerät-Hersteller eine beeindruckende Anzahl an neuen, patentierten Lösungen entwickelt. Man kann also mit Fug und Recht behaupten, dass GGBs Stärken insbesondere handwerkliches Können, Präzision, Kundendienst und Problemlösung sind.

Weitere Informationen zu den Themen Stromversorgungslösungen, elektronische Schutzelemente und Testlösungen für die Halbleiterindustrie finden Sie auf unserer Website.

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Sollten Sie sich für GGB/Picoprobe Produkte interessieren, beraten wir Sie gerne umfassend.

Sie können uns wie folgt erreichen:

E-Mail: info@bsw-ag.com
Tel.: +49 (0) 7032 / 895 93-1

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PICOPROBE® 40-110 | Mikrowellen-Prüfspitzen

GGB Picoprobe

GB-40-110-Serie

Hochleistungs-Mikrowellen-Prüfspitzen für HF-Messungen, von DC 40 bis 110 GHz, koaxiales Design, federnde Kontakte

Preis auf Anfrage

zzgl. MwSt.

Details

PICOPROBE® Modell 12C | Aktiver Hi-Z-Tastkopf

GGB Picoprobe

GB-Modell-12C

Aktive Hi-Z-Prüfspitze/Tastkopf für IC-Messungen, 1 MΩ/0.1 pF Eingang, 0.8 ns, DC bis 500 MHz, Signal-Dämpfung 10:1/20:1

Preis auf Anfrage

zzgl. MwSt.

PICOPROBE® Modell 34A | Aktive HF-Prüfspitze bis 3 GHz

GGB Picoprobe

GB-Modell-34A

Aktive hochohmige HF-Prüfspitze/Probe für interne Messpunkte, 10 MΩ | 0.1 pF Eingang, 20:1-Abschwächung, 120 ps und DC bis 3 GHz

Preis auf Anfrage

zzgl. MwSt.

PICOPROBE® Modell 35 | Aktive HF-Prüfspitze bis 12 GHz

GGB Picoprobe

GB-Modell-35

Aktive hochohmige HF-Prüfspitze/Probe für interne Messpunkte, 1.25 MΩ | 0.05 pF Eingang, 10:1-Abschwächung, 14 ps, DC bis 26 GHz

Preis auf Anfrage

zzgl. MwSt.

PICOPROBE® Modell 10 | HF- und Mikrowellen-Prüfspitze

GGB Picoprobe

GB-Modell-10-Serie

Passive HF- und Mikrowellen-Prüfspitzen für 50 Ω- und hochohmige Messpunkte, wechselbare Prüfspitzen, DC bis 11 GHz

Preis auf Anfrage

zzgl. MwSt.

PICOPROBE® Modelle 18C/19C | Aktive hochohmige Prüfspitze/Probe

GGB Picoprobe

GB-Model-18C/19C

Aktive hochohmige Messsonden, für empfindliche MOS-Schaltungen – 0.02 pF Eingangskapazität, 10⁻¹⁴ A Leckstrom, DC bis 350 MHz, 1.2 ns Anstiegs-/Abfallzeit

Preis auf Anfrage

zzgl. MwSt.

PICOPROBE® Modelle 28/29 | Aktive MOS-Wafer-Prüfspitzen

GGB Picoprobe

GB-Modell-28/29

Aktive Prüfspitzen für MOS-On-Wafer-Messungen – Modelle 28/29 mit 20:1-Abschwächung, 0.04 pF Eingangskapazität, DC bis 1 GHz

Preis auf Anfrage

zzgl. MwSt.

Picoprobe Modell 7/7A | Ansicht: vorne links

PICOPROBE Modelle 7/7A | Koaxiale Mikro-Prüfspitze

GGB Picoprobe

GB-Modell-7/7A

Prüfspitzen für On-Wafer-Probing – Modell 7 mit 50-Ohm-Terminierung, Modell 7A für Kapazitäts- und Widerstandsmessungen

Preis auf Anfrage

zzgl. MwSt.

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