PICOPROBE® Modell 12C | Aktiver Hi-Z-Tastkopf
Misst schnelle IC-Knoten präzise bei minimaler Belastung – ideal für empfindliche On-Wafer- und Mikro-Kontaktierungen.
- ✓ Aktive Hi-Z-Prüfspitze/Tastkopf für IC-Messungen
- ✓ 1 MΩ/0.1 pF Eingang
- ✓ 0.8 ns
- ✓ DC bis 500 MHz
- ✓ Signal-Dämpfung 10:1/20:1
Aktiver Hi-Z-Tastkopf mit 0,1 pF Eingangskapazität und 500 MHz Bandbreite
Schnelle IC-Knoten mit geringer Tastkopflast messen
Der Hi-Z-Tastkopf Modell 12C von GGB Industries ist ein schneller, aktiver Hochimpedanz-Tastkopf für Messungen an internen IC-Knoten. Die Kombination aus 1 MΩ Eingangswiderstand und 0,1 pF Eingangskapazität hält die Belastung empfindlicher Messpunkte gering. Mit DC-Fähigkeit, 500 MHz Bandbreite und 0,8 ns Anstiegs-/Abfallzeit eignet sich das Modell 12C für schnelle Messungen an Bipolar-, NMOS- und CMOS-Schaltungen sowie an kapazitiv kritischen IC-Knoten.<
Definierte Abschwächung bei Hi-Z- und 50-Ω-Messung
Das PICOPROBE® Modell 12C kann mit hochohmigen Oszilloskopeingängen und mit 50-Ω-Eingängen verwendet werden. Die Signalabschwächung beträgt 10:1 am hochohmigen Eingang und 20:1 am 50-Ω-Eingang. Wenn Sie keine hochohmigen IC-Knoten messen, sondern koaxial im HF- oder Mikrowellenbereich kontaktieren möchten, finden Sie passende Alternativen in der Kategorie Prüfspitzen / Probes.
Austauschbare Tastspitzen für anspruchsvolle Mikro-Kontaktierungen
Die Tastspitzen enthalten eine präzise Widerstands-/Kapazitätskombination und einen fein zugespitzten Wolfram-Tastdraht. Es sind Tastspitzen mit 10 µm bis 125 µm Drahtdurchmesser verfügbar. Die zugehörigen Spitzenmaße reichen von < 0,1 µm bis < 5,0 µm. Der biegeelastische Wolframdraht unterstützt den Kontakt am Prüfpunkt und verringert das Risiko mechanischer Schäden an Tastspitze und IC-Struktur.
Alternative Produkte
Wenn Ihre Messung keine hochohmige IC-Knotenmessung erfordert, sondern eine koaxiale HF-Kontaktierung mit austauschbaren Prüfspitzen, eignet sich die PICOPROBE® Modell-10-Serie als passende Alternative.
Passende Produktbereiche
Das passende PICOPROBE® Modell 12C für Ihren Messplatz auswählen
Wer das passende PICOPROBE® Modell 12C auswählt, muss Probe Stations, Mikropositionierer und die Kontaktierung empfindlicher IC-Strukturen sicher beurteilen können. Je nach Messplatz und Kontaktieraufgabe können sich Bauform, Tastspitzengeometrie und Drahtdurchmesser unterscheiden.
Wir unterstützen Sie bei dieser Auswahl und prüfen, welche Modell-12C-Ausführung technisch zu Ihrer Anwendung passt.
Teilen Sie uns die Daten Ihrer Probe Station, Ihres Mikropositionierers und Ihrer Messaufgabe mit. Unsere Experten empfehlen Ihnen gern die passende Konfiguration. Senden Sie uns Ihre Anfrage einfach über das Kontaktformular.
Spezifikationen
| Eingangsimpedanz | 1 MΩ parallel zu 0,1 pF |
|---|---|
| Anstiegs-/Abfallzeit | 0,8 ns |
| Bandbreite | DC bis 500 MHz |
| Linearität | 0,5 % |
| Spannungsbereich | −10 bis +20 V |
| Verstärkungsgenauigkeit | ± 3 % |
| Signalabschwächung | 1 an 50-Ω-Eingang |
| Versorgungsspannung | 110 V oder 230 V |
Optionen & Zubehör
Austauschbare Prüfspitzen - Bestellvarianten aus Bauform, Draht- und Spitzendurchmesser
| Modell 12C-1 | gerade Bauform |
|---|---|
| Modell 12C-2 | abgewinkelte Bauform |
| Modell 12C-4 | verlängerte gerade Bauform |
Funktionsmodule
| 12C-1-10 | Drahtdurchmesser 10 µm, Spitzendurchmesser < 0,2 µm |
|---|---|
| 12C-1-22 | Drahtdurchmesser 22 µm, Spitzendurchmesser < 1,0 µm |
| 12C-1-35 | Drahtdurchmesser 35 µm, Spitzendurchmesser < 2,0 µm |
| 12C-1-60 | Drahtdurchmesser 60 µm, Spitzendurchmesser < 3,0 µm |
| 12C-1-125 | Drahtdurchmesser 125 µm, Spitzendurchmesser < 5,0 µm |
| 12C-2-10 | Drahtdurchmesser 10 µm, Spitzendurchmesser < 0,2 µm |
| 12C-2-22 | Drahtdurchmesser 22 µm, Spitzendurchmesser < 1,0 µm |
| 12C-2-35 | Drahtdurchmesser 35 µm, Spitzendurchmesser < 2,0 µm |
| 12C-2-60 | Drahtdurchmesser 60 µm, Spitzendurchmesser < 3,0 µm |
| 12C-2-125 | Drahtdurchmesser 125 µm, Spitzendurchmesser < 5,0 µm |
| 12C-4-10 | Drahtdurchmesser 10 µm, Spitzendurchmesser < 0,2 µm |
| 12C-4-22 | Drahtdurchmesser 22 µm, Spitzendurchmesser < 1,0 µm |
| 12C-4-35 | Drahtdurchmesser 35 µm, Spitzendurchmesser < 2,0 µm |
| 12C-4-60 | Drahtdurchmesser 60 µm, Spitzendurchmesser < 3,0 µm |
| 12C-4-125 | Drahtdurchmesser 125 µm, Spitzendurchmesser < 5,0 µm |
PICOPROBE® Standard-Netzteilausführung
| 110 V | |
| I230 V |
Hinweis: Die passende Tastspitzen-Bauform und der geeignete Wolframdraht-Durchmesser hängen von Ihrer Probe Station, Ihrem Wafer-Messplatz und Ihrem Mikropositionierer ab. Sprechen Sie uns darauf an – wir helfen Ihnen gerne, die optimale Ausführung für Ihre Anwendung zu finden.
Lieferumfang
| PICOPROBE® Modell 12C, Prüfspitze mit Wolframdraht – je nach Konfiguration |
| Netzteil – je nach Konfiguration |
Anwendungen
| Messung interner Knotenspannungen in integrierten Schaltungen |
| Fehlersuche an schnellen Bipolar-, NMOS- und CMOS-Schaltungen |
| Messungen an dynamischen Knoten mit kurzer Haltezeit |
| On-Wafer-Probing in der Halbleitertechnik |
Links & Downloads
Verfügbare Downloads (ohne Gewähr)
Hersteller
GGB Industries, der Erfinder der Picoprobe®-Produktlinie von Mikrowellen- und Oszilloskop-Tastköpfen, liefert bereits seit 1980 Messköpfe für On-wafer Messungen für die Halbleiterindustrie, beginnend mit einer Reihe hochohmiger Sonden für die Fehlersuche bei der Diagnose der internen Funktionsweise komplexer Logik- und Speicherchips. Seitdem hat GGB eine beeindruckende Anzahl an neuen, patentierten Lösungen entwickelt. Man kann also mit Fug und Recht behaupten, dass GGBs Stärken insbesondere handwerkliches Können, Präzision, Kundendienst und Problemlösung sind.
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