PICOPROBE® Modelle 18C/19C | Aktive hochohmige Prüfspitze/Probe
Misst selbst empfindlichste MOS-Knoten und feinste Strukturen präzise, ohne das Signal durch den Tastkopf nennenswert zu verfälschen.
- ✓ Aktive hochohmige Messsonden
- ✓ für empfindliche MOS-Schaltungen – 0.02 pF Eingangskapazität
- ✓ 10⁻¹⁴ A Leckstrom
- ✓ DC bis 350 MHz
- ✓ 1.2 ns Anstiegs-/Abfallzeit
Aktive Hochimpedanz-Prüfspitzen für MOS-Knoten und On-Wafer-Messungen
GGB PICOPROBE® Modelle 18C/19C: Aktive Prüfspitzen für hochohmige MOS-Knoten
Die GGB Picoprobe® Modelle 18C/19C sind aktive Hochimpedanz-Prüfspitzen für direkte Messungen an MOS-Knoten, feinen Leiterstrukturen und Wafer-Probing-Aufbauten. Mit 0,04 pF Eingangskapazität und 10 fA Eingangsleckage belastet der Eingang den Kontaktpunkt nur wenig. Das Signal wird zum Oszilloskop geführt, ohne den Messpunkt so stark zu beeinflussen wie ein Standardtastkopf.
Messpunkt und Oszilloskopeingang passend verbinden
An hochohmigen Knoten entscheidet die Eingangslast darüber, wie stark der Tastkopf den Messpunkt verändert. Die Modelle Picoprobe 18C/19C führen das Signal vom Kontaktpunkt zum Oszilloskop und halten die kapazitive Last am Eingang niedrig.
Spannungsbereiche, Abschwächung und Kategorie Prüfspitzen / Probes der GGB PICOPROBE® Modelle 18C/19C
GGB nennt für die Signalübertragung einen Bereich von DC bis 350 MHz. Modell 18C arbeitet von 0 bis +10 V, Modell 19C von -7 bis +3 V. Am Oszilloskop gelten 10:1 Abschwächung an hochohmigen Eingängen und 20:1 an 50-Ω-Eingängen.
Prüfspitze nach Kontaktfläche und Drahtdurchmesser auswählen
Bei den Ersatzspitzen bestimmt die Kontaktfläche, welcher Wolframdraht-Durchmesser zum Messpunkt passt. Die Prüfspitzen sind mit 5 µm, 10 µm, 20 µm und 50 µm Drahtdurchmesser erhältich; kleinere Durchmesser passen zu sehr kleinen Strukturen, größere Durchmesser bieten beim Aufsetzen mehr mechanische Reserve.
Alternative Produkte
Geht es statt hochohmiger MOS-Knoten um HF- oder Mikrowellen-Probing, führt der LXinstruments-Shop die PICOPROBE® Modell-10-Serie als eigene Produktreihe.
Wenn die Messaufgabe eher auf Kapazitäts- oder Widerstandsmessungen zielt, sind die PICOPROBE® Modelle 7/7A die passende Alternative.
Passende Produktbereiche
Messaufgabe klären
Sie prüfen empfindliche MOS-Knoten und möchten Modell, Spannungsbereich oder Oszilloskopeingang vor der Anfrage abgleichen? Senden Sie uns Ihre Messaufgabe und die entsprechenden Randbedingungen. Unser Expertenteam hilft Ihnen gerne weiter.
Spezifikationen
Gemeinsame Spezifikationen der Modelle 18C und 19C
| Eingangskapazität | 0,02 pF |
|---|---|
| Eingangsleckstrom | 10⁻¹⁴ A |
| Anstiegs-/Abfallzeit | 1,2 ns |
| Sequenzbereich | DC bis 350 MHz |
| Verstärkungsgenauigkeit | ±5 % |
| Signalabschwächung | 10 zu 1 bei Oszilloskopen mit hoher Eingangsimpedanz; 20 zu 1 bei 50-Ohm-Eingang |
Modell 18C
| Betriebsbereich | 0 bis +10 V |
|---|---|
| Linearität | 0,2 % im 5-V-Bereich ; 2 % im 10-V-Bereich |
Modell 19C
| Betriebsbereich | -7 bis +3 V |
|---|---|
| Linearität | 0,2 % im ±3-V-Bereich, 2 % im Bereich -7 bis +3 V |
Optionen & Zubehör
Tastspitzen-Bauformen:
| Modell 18C-1 | gerade Bauform |
|---|---|
| Modell 18C-2 | abgewinkelte Bauform |
| Modell 18C-4 | verlängerte gerade Bauform |
Auswechselbare Prüfspitzen - Bestellvarianten aus Bauform, Wolframdraht- und Spitzendurchmesser:
| 18C-1-10 | Drahtdurchmesser 10 µm, Spitzendurchmesser < 0,1 µm |
|---|---|
| 18C-1-20 | Drahtdurchmesser 20 µm, Spitzendurchmesser < 1,0 µm |
| 18C-1-50 | Drahtdurchmesser 50 µm, Spitzendurchmesser < 3,0 µm |
| 18C-2-10 | Drahtdurchmesser 10 µm, Spitzendurchmesser < 0,1 µm |
| 18C-2-20 | Drahtdurchmesser 20 µm, Spitzendurchmesser < 1,0 µm |
| 18C-2-50 | Drahtdurchmesser 50 µm, Spitzendurchmesser < 3,0 µm |
| 18C-4-10 | Drahtdurchmesser 10 µm, Spitzendurchmesser < 0,1 µm |
| 18C-4-20 | Drahtdurchmesser 20 µm, Spitzendurchmesser < 1,0 µm |
| 18C-4-50 | Drahtdurchmesser 50 µm, Spitzendurchmesser < 3,0 µm |
PICOPROBE® Standard-Netzteilausführung
| 110 V | |
| 230 V |
Hinweis: Die passende Prüfspitzen-Bauform und der geeignete Wolframdraht-Durchmesser hängen von Ihrer Probe Station, dem Wafer-Messplatz und Ihrem Mikropositionierer ab. Sprechen Sie uns darauf an – wir helfen Ihnen gerne, die optimale Ausführung für Ihre Anwendung zu finden.
Lieferumfang
| PICOPROBE® Modell 18C oder PICOPROBE® Modell 19C, Tastspitze mit Wolframdraht – je nach Konfiguration |
| Netzteil – je nach Konfiguration |
Anwendungen
| Direktes Probing empfindlicher MOS-Dynamic-Nodes |
| Charakterisierung schneller Schaltungen von DC bis 350 MHz |
| Messungen an feinsten Leiterbahnen und Mikrostrukturen |
| Einsatz auf Probe Stations und Mikropositionierern |
| On-Wafer-Probing in der Halbleitertechnik |
Links & Downloads
Hersteller
GGB Industries, der Erfinder der Picoprobe®-Produktlinie von Mikrowellen- und Oszilloskop-Tastköpfen, liefert bereits seit 1980 Messköpfe für On-wafer Messungen für die Halbleiterindustrie, beginnend mit einer Reihe hochohmiger Sonden für die Fehlersuche bei der Diagnose der internen Funktionsweise komplexer Logik- und Speicherchips. Seitdem hat GGB eine beeindruckende Anzahl an neuen, patentierten Lösungen entwickelt. Man kann also mit Fug und Recht behaupten, dass GGBs Stärken insbesondere handwerkliches Können, Präzision, Kundendienst und Problemlösung sind.
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