PICOPROBE® Modell 34A | Aktive HF-Prüfspitze bis 3 GHz
Misst schnelle HF-Signale bis 3 GHz an kleinsten internen Schaltungspunkten – präzise und mit minimaler Belastung des Prüflings.
- ✓ Aktive hochohmige HF-Prüfspitze/Probe für interne Messpunkte
- ✓ 10 MΩ | 0.1 pF Eingang
- ✓ 20:1-Abschwächung
- ✓ 120 ps und DC bis 3 GHz
Aktive HF-Prüfspitze für interne Schaltungsknoten und On-Wafer-Probing bis 3 GHz
PICOPROBE Modell 34A: Kleine Messpunkte mit geringer Signalbeeinflussung prüfen
Das GGB PICOPROBE® Modell 34A ist eine aktive HF-Prüfspitze für Messungen an internen Knoten von HF-Schaltungen. Im Probing-Aufbau kontaktiert die Prüfspitze kleine Messpunkte präzise und belastet die Schaltung nur gering. Das dabei aufgenommene Signal leitet sie an einen 50-Ohm-Oszilloskopeingang weiter. Am Messpunkt liegt der Eingang nominal mit 10 MΩ parallel zu 0,1 pF; der Frequenzgang reicht von DC bis 3 GHz (-3 dB).
Schnelle HF-Signale direkt in der Schaltung erfassen
Interne Messpunkte in HF-Schaltungen reagieren empfindlich auf zusätzliche Last am Kontaktpunkt. Deshalb kombiniert das PICOPROBE® Modell 34A einen Frequenzgang von DC bis 3 GHz mit einer aktiven nominalen Eingangslast. Die DC-Kopplung ermöglicht die Übertragung von Gleichspannungsanteilen; schnelle Signalflanken erfasst die aktive Prüfspitze mit 120 ps Anstiegs- und Abfallzeit bei einem 5-V-Puls
20:1-Signal am 50-Ω-Oszilloskopeingang
Am Messpunkt ist die aktive Prüfspitze für Spannungen von -7 V bis +10 V ausgelegt. Die Signalabschwächung von 20:1 gilt am 50-Ohm-Oszilloskopeingang und muss bei der Anzeige am Messgerät berücksichtigt werden.
Die richtige Wolframdrahtspitze für kleine Kontaktpunkte
Die Kontaktierung erfolgt über austauschbare Wolframdraht-Prüfspitzen mit Drahtdurchmessern von 5 µm bis 125 µm sowie jeweils passend zugeordnete Spitzenradien. Feine Wolframdrahtspitzen erleichtern das Kontaktieren kleiner, empfindlicher Messpunkte. Größere Drahtdurchmesser bieten mehr mechanische Reserve bei höherem Andruck. Drahtdurchmesser und Spitzenradius müssen daher zur Messaufgabe und zum Probing-Aufbau passen.
Alternative Produkte
Wenn anstatt einer aktiven HF-Prüfspitze eine passive HF- oder Mikrowellen-Kontaktierung gefragt ist, lohnt sich der Blick auf die PICOPROBE® Modell-10-Serie.
Passende Produktbereiche
Beratung zur Prüfspitzenauswahl
Sie möchten wissen, welche Prüfspitze zu Ihrem Messpunkt, Ihrem Probing-Aufbau und Ihrem Oszilloskopeingang passt? Senden Sie uns Ihre Messaufgabe und die wichtigsten Randbedingungen. Das Expertenteam von bsw TestSystems und Consulting unterstützt Sie gerne bei der Auswahl der benötigten Prüfspitze.
Spezifikationen
| Eingangskapazität | 0,1 pF |
|---|---|
| Eingangswiderstand | 10 MΩ |
| Anstiegs-/Abfallzeit | 120 ps bei 5-V-Puls |
| Frequenzbereich | DC bis 3 GHz (-3 dB) |
| Betriebsbereich | -7 V bis +10 V |
| Linearität | 0,5 % |
| Verstärkungsgenauigkeit | ±3 % |
| Signalabschwächung | 1 |
Optionen & Zubehör
Ersatz-Prüfspitzen - Bestellvarianten aus Draht- und Spitzendurchmesser:
| 34A-4-5 | Drahtdurchmesser 5 µm, Spitzendurchmesser < 0,1 µm |
|---|---|
| 34A-4-10 | Drahtdurchmesser 10 µm, Spitzendurchmesser < 0,1 µm |
| 34A-4-22 | Drahtdurchmesser 22 µm, Spitzendurchmesser < 1,0 µm |
| 34A-4-35 | Drahtdurchmesser 35 µm, Spitzendurchmesser < 2,0 µm |
| 34A-4-60 | Drahtdurchmesser 60 µm, Spitzendurchmesser < 3,0 µm |
| 34A-4-125 | Drahtdurchmesser 125 µm, Spitzendurchmesser < 5,0 µm |
PICOPROBE® Standard-Netzteilausführung:
| 110 V | |
| 230 V |
Lieferumfang
| PICOPROBE® Modell 34A, Prüfspitze mit Wolframdraht – je nach Konfiguration |
| Netzteil – je nach Konfiguration |
Anwendungen
| Messungen an internen Messpunkten von HF-Schaltungen |
| On-Wafer-Probing an RF- und Microwave-Schaltungen |
| Charakterisierung schneller HF-Signale bis 3 GHz |
| Entwicklung, Design-Debug und Verifikation von HF-Schaltungen |
| Signalprüfung an empfindlichen Messpunkten mit geringer Eingangslast |
Links & Downloads
Hersteller
GGB Industries, der Erfinder der Picoprobe®-Produktlinie von Mikrowellen- und Oszilloskop-Tastköpfen, liefert bereits seit 1980 Messköpfe für On-wafer Messungen für die Halbleiterindustrie, beginnend mit einer Reihe hochohmiger Sonden für die Fehlersuche bei der Diagnose der internen Funktionsweise komplexer Logik- und Speicherchips. Seitdem hat GGB eine beeindruckende Anzahl an neuen, patentierten Lösungen entwickelt. Man kann also mit Fug und Recht behaupten, dass GGBs Stärken insbesondere handwerkliches Können, Präzision, Kundendienst und Problemlösung sind.
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