PICOPROBE® Modell 35 | Aktive HF-Prüfspitze bis 12 GHz
Erfasst interne HF-Signale bis 26 GHz direkt am Messpunkt – hochohmig und mit nur 0,05 pF für minimale Belastung der Schaltung.
- ✓ Aktive hochohmige HF-Prüfspitze/Probe für interne Messpunkte
- ✓ 1.25 MΩ | 0.05 pF Eingang
- ✓ 10:1-Abschwächung
- ✓ 14 ps
- ✓ DC bis 26 GHz
Koaxiale aktive HF-/Hochfrequenz-Prüfspitze bis 26 GHz
PICOPROBE Modell 35: Interne HF-Signale mit geringer Eingangslast erfassen
Das GGB PICOPROBE® Modell 35 ist eine aktive, hochohmige HF-Prüfspitze für direktes On-Wafer-Probing und Messungen an internen Messpunkten von Hochfrequenzschaltungen bis in den Mikrowellenbereich. Sie nimmt Signale an internen Schaltungsknoten auf und gibt sie mit 10:1-Abschwächung an einen 50-Ohm-Oszilloskopeingang weiter. Am Messpunkt belastet die Prüfspitze die Schaltung nominal mit 1,25 MΩ parallel zu 0,05 pF. Der Frequenzbereich von DC bis 26 GHz ermöglicht die Erfassung schneller HF-Signale mit Gleichspannungsanteil.
Volle Bandbreite mit einem Kontaktpunkt
Die Prüfspitze Picoprobe Modell 35 erreicht ihre Bandbreite mit einem einzelnen Kontaktpunkt, dem Single Probe Point. Dadurch lässt sich das Signal direkt am Messpunkt aufnehmen, wenn die Kontaktfläche klein ist oder der Probing-Aufbau nur wenig Platz bietet.
DC-gekoppelte HF-Signale bis 26 GHz messen
Die Anstiegs-/Abfallzeit beträgt 14 ps bei einem Puls von bis zu 3 V. Die im Datenblatt gezeigte Signalantwort auf einen 0,25-V-Puls mit 25-ps-Anstiegszeit veranschaulicht das schnelle Ansprechverhalten der Prüfspitze. Für die Messung am Kontaktpunkt zählt die Spannungslage: Die aktive Prüfspitze arbeitet von -6 V bis +6 V; innerhalb von ±3 V ist die Messlinearität mit 2 % spezifiziert. Bei höherer DC-Vorspannung oder höherer Signalspannung muss die Eignung vor der Auswahl geprüft werden. Wenn statt der aktiven, hochohmigen Prüfspitze eine passive koaxiale Kontaktierung oder ein anderer Frequenzbereich gefragt ist, finden Sie weitere HF- und Wafer-Probes in der Kategorie Prüfspitzen/Probes.
Prüfspitzen passend zur Kontaktfläche wählen
Die austauschbaren Wolframdraht-Prüfspitzen sind mit Drahtdurchmessern von 5 µm bis 35 µm erhältlich; die zugeordneten Spitzenradien reichen von < 0,1 µm bis < 2,0 µm. Kleine Spitzenradien erleichtern das präzise Kontaktieren kleiner, empfindlicher Strukturen. Größere Drahtdurchmesser erhöhen die mechanische Reserve bei höherem Andruck. Deshalb müssen Spitzenradius und Drahtdurchmesser zur Kontaktfläche, zur gewünschten Kontaktkraft und zum Probing-Aufbau passen.
Alternative Produkte
Für Messaufgaben, bei denen eine passive koaxiale Kontaktierung im Vordergrund steht, ist die PICOPROBE® Modell-10-Serie bis 11 GHz die naheliegende Alternative. Für koaxiale Mikrowellen-Probes in deutlich höheren Frequenzklassen bietet sich der Vergleich mit der PICOPROBE® 40-110-Serie an.
Passende Produktbereiche
Beratung für Ihren Probing-Aufbau
Sie möchten klären, ob das PICOPROBE® Modell 35 zu Ihrem Kontaktpunkt, Ihrer Probe-Station und Ihrem Oszilloskopeingang passt? Senden Sie Ihre Messaufgabe und die Randbedingungen. Das Team der bsw TestSystems & Consulting unterstützt Sie bei der Auswahl der passenden Prüfspitze.
Spezifikationen
| Eingangskapazität | 0,05 pF |
|---|---|
| Eingangswiderstand | 1,25 MΩ |
| Anstiegs-/Abfallzeit | 14 ps bei einem Puls bis 3 V |
| Frequenzbereich | DC bis 26 GHz |
| Betriebsbereich | -6 V bis +6 V |
| Spannungsbereich | -10 V bis +20 V |
| Linearität | 2 % im Bereich ±3 V |
| Signalabschwächung | 1 bei 50-Ohm-Eingang |
Optionen & Zubehör
Ersatz-Prüfspitzen - Bestellvarianten aus Draht- und Spitzendurchmesser:
| 35-1-5 | Drahtdurchmesser 5 µm, Spitzendurchmesser < 0,1 µm |
|---|---|
| 35-1-10 | Drahtdurchmesser 10 µm, Spitzendurchmesser < 0,1 µm |
| 35-1-20 | Drahtdurchmesser 22 µm, Spitzendurchmesser < 1,0 µm |
| 35-1-35 | Drahtdurchmesser 35 µm, Spitzendurchmesser < 2,0 µm |
PS-3: Netzteil
| 110 V | |
| 230 V |
Lieferumfang
| PICOPROBE® Modell 5, Prüfspitze mit Wolframdraht – je nach Konfiguration |
| PS-3-Netzteil – je nach Konfiguration |
Links & Downloads
Verfügbare Downloads (ohne Gewähr)
Hersteller
GGB Industries, der Erfinder der Picoprobe®-Produktlinie von Mikrowellen- und Oszilloskop-Tastköpfen, liefert bereits seit 1980 Messköpfe für On-wafer Messungen für die Halbleiterindustrie, beginnend mit einer Reihe hochohmiger Sonden für die Fehlersuche bei der Diagnose der internen Funktionsweise komplexer Logik- und Speicherchips. Seitdem hat GGB eine beeindruckende Anzahl an neuen, patentierten Lösungen entwickelt. Man kann also mit Fug und Recht behaupten, dass GGBs Stärken insbesondere handwerkliches Können, Präzision, Kundendienst und Problemlösung sind.